技术编号:13532185
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数字集成电路的输出信号的供应,且具体地但非排他地,涉及在低电压条件下数字集成电路的输出信号的供应。背景技术来自集成电路(IC)的数字核心的输入和输出信号可经由输入/输出单元(例如,互补金属氧化物半导体(CMOS)IO单元)提供到集成电路的外部。在一些系统中,集成电路的电力供应可能不同于外部电路系统的电力供应,且CMOSIO单元用于将来自数字核心的电压转换为与外部电路系统的电力供应一致的电压。常常测试IC以检验其功能性。由于可预期数字核心在低供应电压条件下操作,因此这些条件可用于测试IC...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。