技术编号：13825608
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及发光器件检测领域，特别涉及一种发光器件测试系统的导电保护结构。背景技术有一种二极管发光器件，电极面与发光面相对。在发光器件测试系统中，通过导电物体接触电极面的P极和N极，点亮发光器件，对其光参数进行检测。发光器件测试系统中的载片台用于承载被测发光器件，光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数，在光参数测试装置上升至靠近载片台中被测发光器件以进行测试的位置时，由于光参数测试装置只做竖向移动，水平方向不移动，而当载片台在水平方向移动以调节被测发光器件的位置时，容易发生光参...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。