技术编号：14073019
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及3维形状测量方法及3维形状测量装置。背景技术作为物体的3维形状测量方法的一种，已知如在专利文献1中公开的移相法。在移相法中，明度以正弦波状变化的条纹图案投影至物体，取得条纹图案所投影到的物体的图像数据。另外，在移相法中，对投影至物体的各点的条纹图案的相对相位值进行计算。为了根据相对相位值对物体的3维形状进行计算，实施基于相对相位值和条纹次数对物体的各点中的绝对相位值进行计算的相位连接。专利文献1：日本特开2001－124534号公报在相位连接中，已知使用将空间编码图案投影至物体的空间编...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。