技术编号：14124061
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种接近传感器。背景技术以往已知，接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测该物体的有无的技术(例如，参照专利文献1)。专利文献1：日本特开平6-152364号公报发明内容然而，若受到反射光所包括的干扰光(例如，太阳光或照明光等环境光)的影响，则会存在物体的接近程度的检测精度下降的情况。因此，本发明的目的在于，提供一种提高物体的接近程度的检测精度的接近传感器。为达成上述目的，在本发明的一实施方式提供一种接近传感器，其接受发光脉冲被物体反射而到来的反射光，并检测所述物体的接近，该接近传...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。