技术编号:14194173
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元器件技术领域,尤其涉及一种铝电解电容器的内部温升测试方法和装置。背景技术高温会严重影响电子元器件的使用寿命,有可能会导致电子元件失效,从而导致整个机器失效、故障甚至事故。为验证所选原件的温升设计是否满足规格要求,尤其关键元器件(电解电容器、继电器等),必须进行温升测试。而电解电容器的使用寿命与温度直接相关,为了检测电容器在额定工作环境和极限工作环境的参数,也需要对电容器进行温升测试,检测其温升是否符合标准。国内外大部分厂家对铝电解电容器的温升测试都是测试电容器表面温度,再通过计算...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。