技术编号:14216570
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及印刷品检测图像检测技术领域,特别是涉及一种印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法及系统。背景技术在印刷品图像缺陷检测模块中,通过合格品图像(又称为参考图像)和待检测品图像(又称待检图像)比对以发现待检测品与合格品的不一致性,定义为缺陷。在印刷品图像的拍摄过程中,合格品和待检测品实际拍摄环境并不绝对一致而可能产生如侧向失真的畸变,因此必须在缺陷检测之前对待检测印刷品进行向合格品图像的回校正,使合格品和待检测品图像形成单一变量比对,便于缺陷监测分析。印刷品检测系统是使用线阵CCD工业相机和高...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。