技术编号：14247374
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及材料的物理性质测量领域，尤其涉及材料表面辐射率测量领域。背景技术辐射率是指衡量物体表面以辐射的形式释放能量相对强弱的能力，也称为发射率。物体表面的辐射率等于物体在一定温度下辐射的能量与同样温度下黑体辐射能量的比。黑体的辐射率等于1，其他物体的辐射率介于0和1之间。辐射率的测量，对于研究材料的表面物理性质，评价其热反射能力，至关重要。常用的检测方法有红外光谱积分法、接触式或者感应式面电阻法等。在现有技术中，测量物体辐射率时，接触式测量得到的温度很难转换为物体表面的红外辐射温度，进而给测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。