技术编号:14249337
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及非易失性存储器测试技术领域,特别是涉及一种应用操作非易失性存储器的性能测试数据处理方法和装置。背景技术目前通用的计算机结构中,一般包括作为内存储器的易失性存储器和作为外存储器的非易失性存储器。易失性存储器可以暂时、高效地存储数据,但数据最终需写入非易失性存储器中长期保存。非易失性存储器通常包括磁存储器和半导体存储器,磁存储器又可以包括磁芯存储器、磁鼓存储器和磁盘存储器。目前对非易失性存储器的测试主要采用专用的测试工具单纯测试非易失性存储器的读取和写入速度等性能指标,难以反映应用在操作非...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。