技术编号：14731315
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于天文测量与光学成像技术领域，具体涉及一种基于短曝光斑点图频谱比值的地基望远镜焦点探测方法。背景技术大气湍流引起的动态波前畸变和望远镜的自身静态像差是影响望远镜成像质量的主要因素，其中望远镜的静态像差取决于主镜、副镜等主要成像元件的加工精度和安装精度，通常安装好的望远镜的成像质量是相对稳定的，但在望远镜运行过程中，由于探测器的安装位置、环境温度等因素的变化都会导致望远镜的焦点发生变化产生离焦像差，该像差严重地影响了望远镜成像质量，因此为了让望远镜工作在最佳状态，高精度的焦点探测则成为了保...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。