技术编号：15075723
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是涉及一种测量装置，且特别是涉及一种光谱仪及其光谱测量方法。背景技术一般来说，光谱仪广泛地用于材质分析应用，光谱仪可藉由光被未知样品吸收或反射后所具有的特性(例如藉由光的波长)来进行材质分析。一般来说，常见的光谱仪依据测量方式的不同可分为测量到反射光、穿透光或是通过光纤输入待测光的方式进行，而由于不同的测量方式所对应的光信号强度不同，因此所对应使用的测量参数也不相同。此外，若待测物的特性(例如物体对于光的吸收度)差异过大，或是提供测试光的光源因老化衰减时，亦需进行测量参数的调整。在这些情形...
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