技术编号:15160620
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及背板测试总线领域,尤其涉及一种基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路。背景技术联合测试行动组(JTAG,Joint Test Action Group,也称作IEEE 1149.1 边界扫描测试标准)是一种用来进行复杂IC(Integrated Circuit)与电路板的特性测试的工业标准方法。支持JTAG标准的IC与电路板都具备支持JTAG测试的4条串行总线(第5条线为可选的复位线),分别为TDI(测试数据输入)、TDO(测试数据输出)、TMS(测试模式选择)与TCK(测试...
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