技术编号:15212737
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种激光测量领域,特别涉及一种用于激光跟踪测量系统的水平轴微调装置。背景技术激光干涉仪目前是世界上大范围位移测量精度最高的实用工具,以多个激光跟踪干涉测量装置为基础的柔性坐标测量系统避免了传统坐标测量机使用精密导轨的限制,被认为是最具有潜力的,大范围、高精度、非接触、动态、现场实时测量的工具,目前其应用已经延伸到工业中各个领域,但是对不同误差进行测量时要搭建不同的测量光路,尤其在对数控机床以及坐标测量机进行校准时,使用激光干涉仪对各项误差进行测量的检测周期长,测量效率低,因此高效、便捷...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。