技术编号:15313948
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及激光平面干涉仪技术领域,特别涉及一种便于物体表面检测的激光平面干涉仪。背景技术激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度使用。如今,激光平面干涉仪使用目的是对物品的表面进行测量,但是在激光平面干涉仪使用时只能进行单面检测,需要进行另一面测量时需要技术人员进行手动拿取物品,转面之后再次放置调整位置固定,增加了物品测量是时间,降低了激光平面干涉仪使用效率,所以在激光平面干涉仪使用时进行合理的对物体表面转面。实用新型内容本实用新型的目的在于针对现有技术的缺...
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