技术编号:15398132
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及红外探测器领域,尤其是涉及一种非均匀性校正装置及使用其校正红外探测器的非均匀性的方法。背景技术当下由于红外探测器制作工艺的限制,在具体制作中,各像元间很难保证响应性能完全一致,由此将导致在实际成像中出现图像的各种不均匀现象。而现今普遍的处理方法是采用一点,两点甚至多点校正的方式,人为将探测器的各像素响应在均匀黑体辐射下校正均匀。理论上来说,采用校正的点数目越大,校正结果越准确。但考虑到实际软硬件情况,校正时大多采用两点校正法,且现有的校正装置都只能对一颗红外探测器进行校正。这样即使得校...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。