技术编号：15492749
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于曲面模型测量领域，更具体地，涉及一种基于自由节点B样条建模的自适应采样方法。背景技术作为香农采样和重构定理的基础，均匀采样是目前应用最为广泛的表面测量方法。然而，最新的非均匀采样定理表明，均匀采样并不是无失真重构的必要条件。大量的研究表明，均匀采样往往会花费较多的时间，占用较大的存储空间，工作成本较高。因此，以节约成本为目的的智能采样技术已渐渐成为人们的研究热点。智能采样方法大致分为四类：样本量优化，采样模式优化，预先学习的采样模式优化和自适应采样。在很多情况下，自适应采样都是最佳的处...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。