技术编号：15982721
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及面向深度学习的集成电路可靠性测度，具体来说是一种基于APHash的电路输入向量特征化方法。背景技术构建一种适用于电路设计早期阶段的快速有效的电路结构可靠性测度方法，是学术界与企业界相关研究人员近年来迫切需要解决的问题，也是电路设计人员所关心的关键技术。目前，有学者提出基于深度学习技术以评价电路结构的可靠性水平，它具有近似常数的时空开销。然而，作为反映应用环境的特征，输入向量往往随着电路的不同而有不同的规模，有时甚至相差几个数量级。这容易导致输入向量特征化困难，主要表现在：一是未能有效地...
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请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。