技术编号:16513407
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及控制器件和控制方法。背景技术已经提出与成像对象或使用用途对应的各种成像器件。此外,在单个成像器件中,已经开发了在多个成像区域中基于不同成像条件获取图像的技术。例如,在专利文献1中,已经公开了这样的技术:在互补金属氧化物半导体(CMOS:Complementary Metal Oxide Semiconductor)传感器中单独控制对所有像素进行读出的高分辨率区域和进行疏化读出的低分辨率区域。引用列表专利文献专利文献1:JP 2007-235387A发明内容本发明要解决的技术问题例如,在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。