技术编号：16601915
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于水果表面缺陷无损检测技术领域，尤其涉及一种基于高光谱成像技术的快速无损识别猕猴桃表面缺陷的方法。背景技术猕猴桃营养价值高，拥有“水果之王”的美誉。我国猕猴桃栽培面积世界第一，种类占世界90%。然而，在猕猴桃的生长过程中，经常会受到各种因素的影响导致猕猴桃表面出现缺陷，极大地影响了猕猴桃的品质和销售。由此可见，对猕猴桃的表面缺陷检测显得尤为重要。但是，猕猴桃果皮颜色较深，其表面缺陷很难被肉眼识别。传统的检测方法大多是人工操作，耗时耗力，而且效率低，无法满足大规模生产的需求。因此，开发研制...
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