技术编号:16619887
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测试设备技术领域,具体为一种辐射测试系统。背景技术辐射测试是检验受试设备通过空间传播的辐射干扰场强,按标准要求应在开阔场地或半电波暗室进行,然而,符合要求的开阔场很难找到,故一般多在屏蔽电波暗室内测试,测量主要采用天线法,但是目前的测试设备在测试完水平辐射后,将天线升高来测试竖直方向辐射,升高天线时,容易改变天线与测试物间的距离,导致水平辐射与竖直辐射无法对比,而且,天线升高后固定困难,为此我们提出一种辐射测试系统用于解决上述问题。实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种辐射测试系...
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