技术编号：16633926
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种高精度的图像放大率测量方法，尤其适用于光学系统成像中对放大率的测量。背景技术放大率是光学系统成像性能中的一个重要特性；而利用标准分辨率板测量光学系统成像的放大率是一个高效、简便的方法。如图1所示，标准分辨率板具有多组各种尺寸、间距的刻度线，每组刻度线平行。通过光学成像系统形成数字图像，再根据软件算法去分辨这些刻度线条纹的边线，从而实现对光学成像系统放大率的测量。随着机器视觉的发展，很多相关软件都具有测量放大率的功能，例如NI Vision、VisionPr...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
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