技术编号:16988767
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路设计技术领域,尤其涉及一种逻辑扫描老化测试系统。背景技术随着工艺尺寸的急剧缩小,数字电路性能带来大幅度提高的同时,也给数字电路的可靠性带来了更多新的挑战。目前,老化是影响数字电路可靠性的主要问题之一。老化会导致晶体管阈值电压的升高,逻辑门单元翻转速度减慢,电路时延增大,导致时序违例的发生,最终引起电路失效。对芯片进行老化测试可以剔除容易发生“早期失效”的元器件,使批量元器件缩短失效期,提前进入稳定的工作期,从而提高芯片的可靠性。现有的逻辑扫描老化测试一般是激励矢量老化测试,激励...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。