技术编号:17101794
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及温度检测设备技术领域,尤其涉及一种多探头红外测温器。背景技术电子元器件由于电阻的存在,在使用过程中会产生热量。随着科技的发展,电子元器件的功能越来越强,伴随的是功率越来越大,在使用过程中产生的热量也越来越多。所以监控电子元器件工作时的温度,对其进行散热,避免由于温度过高导致元器件被烧毁显得十分重要。现在一般使用红外探头来探测电子元器件的温度,并将采集到的温度数据传输到控制器内集中进行处理。由于现在的大型电器系统的电子设备较多,例如多个电控柜同时使用,就需要对各个电控柜都进行温度监控,需...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。