技术编号：17383677
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于天线测量设备技术领域，具体涉及一种用于平面近场测量的小型化超宽带双极化探头天线。背景技术平面近场测量技术是天线测量系统的重要组成部分之一，通过天线探头的机械扫描以获取待测天线(AUT)的平面近场幅相数据，从而实现对天线方向图、增益及极化等辐射参数的测量。平面近场测量一般以矩形波导辐射器或喇叭天线作为天线探头，在待测天线附近平面内以某一间隔进行离散采样，从而获得待测天线辐射近场区域的幅度和相位信息，通过近远场变换便可得到待测天线的方向图、增益、带宽、交叉极化、轴比及效率等辐射参数。平面近...
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