技术编号：17617733
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种多波长激光损伤阈值检测装置。背景技术在大功率高能量激光系统中，存在大量的光学元件，这些元件表面常常需要涂覆薄膜以实现特定的光学性能。已有研究表明，光学元件在强激光下的破坏完全由元件表面薄膜的抗激光能力所决定。因而激光损伤阈值已成为光学元件及薄膜器件不可缺少的一项性能指标。薄膜激光损伤阈值的高效测量也就成为亟待解决的重要技术问题。因此多年来，国内外对激光与光学介质薄膜损伤过程和阈值测试方法的研究始终是研究热点。2000年，国际标准化委员会颁布了ISO11254-1和ISO1125...
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