用于光达的自适应发射功率控制的制作方法技术资料下载

技术编号:17726160

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本发明整体涉及范围感测,具体地讲涉及用于基于飞行时间测量进行深度映射的设备和方法。背景技术在许多深度映射系统(也称为3D映射或3D成像)中使用飞行时间(ToF)成像技术。在直接ToF技术中,光源诸如脉冲激光器朝向要被映射的场景引导光学辐射的脉冲,并且高速检测器感测从该场景反射的辐射的到达时间。深度图中每个像素的深度值是得自输出脉冲的发射时间与从场景中对应点反射的辐射的到达时间之间的差值,这被称为光学脉冲的“飞行时间”。被反射回且被检测器接收的辐射脉冲也被称为“回波”。单光子雪崩二极管(SPAD)...
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