技术编号:18487869
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及一种用于激光二极管(LD)的自动焦距测量装置,属于光器件测试领域。背景技术目前,采用TO(Transistor Outline,晶体管外形)封装的LD(Laser Diode激光二极管)简称TO-LD,由于封装过程中,物理偏差以及TO球透镜差异,会引起焦距偏差和出射光存在空间偏向角。在光通信领域中,测量有源光器件的LD焦距和偏向角,是测试分析有源光器件重要的手段。现有生产过程中,并不能实时提供每颗TO-LD准确的光束焦距参数。只能通过手动耦合装置测量已经组装完成的TO-LD,测量参数包...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。