技术编号：18600406
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及数据存储领域，特别是涉及一种磁盘检测方法、装置、设备及介质。背景技术在当前磁盘的生命周期中一般会经历三个阶段，第一阶段是无任何异常的阶段，一般称作健康状态；第二阶段是出现了各种异常的阶段，如出现磁盘坏道、高温、慢盘、卡顿、及各类读写错误等情况，一般称作亚健康状态；第三阶段就是磁盘出现故障。其中，慢盘的情况体现于磁盘的平均延时明显增加、最大IO吞吐率IOPS降低或最大带宽MB/s降低，无论哪种情况都会造成响应上层业务的性能下降、延时增加、服务能力变低。磁盘故障通常较容易发现，且情况较简单...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。