技术编号：18949554
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于X射线测量的技术领域，尤其涉及一种衍射装置及衍射测量方法。背景技术综合极端条件(包括高压、低/高温等条件)原位测量技术，如原位X衍射、拉曼、红外等前沿原位测量方法可以获得物质在压力维度下的重要信息，为创造新物态、合成新材料、发现新现象提供了机遇。相比其他的表征方法，X射线衍射(X-ray diffraction，XRD)是观察晶体物质内部原子与分子的结构或形态等信息的最重要、最有效和最直接的手段之一。然而，长期以来，受限于普通实验室X衍射仪的强度弱、光斑大，并且不能进行透射式衍射测量等...
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