技术编号：19185279
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及辐射成像技术领域，特别涉及一种交替光源x射线螺旋ct采样方法及装置。背景技术x射线ct成像系统利用x射线穿过物体时在物体中衰减的特性，对物体透视成像。其在医疗、安检、工业检测等领域中都有着广泛的应用。1972年hounsfield设计出第一台平行束ct对物体的一个断层扫描成像。平行束ct仅使用一个光源和一个探测器，在每一个角度的数据采集过程中，探测器和光源沿着扫描圆轨道切向移动如图1(a)所示，这种扫描方式实现了标准的平行束ct数据采集方式，但一个断层的扫描时间长达数小时。在第一代平行...
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