技术编号：19575653
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种用于巨量检测发光二极管的检测基板及其制备方法、检测装置和检测方法。背景技术发光二极管(lightemittingdiode，led)技术发展了近三十年，具有体积小、亮度高和能耗小等特点，从最初的固态照明电源到显示领域的背光源再到led显示屏，为其更广泛的应用提供了坚实的基础。随着芯片制作及封装技术的发展，尺寸约在100微米的次毫米发光二极管(minilightemittingdiode，miniled)显示和50微米以下的微型发光二极管(microlighte...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。