技术编号：19670149
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光测量技术领域，具体为一种高精度异型型材激光测量仪。背景技术激光，即“因受激辐射而产生的放大光”,它是由处于激发状态下的原子、离子或分子在光子作用下，形成受激辐射而产生的一种具有高度方向性、单色性和极大亮度与高能量或高功率密度的光束，激光是20世纪60年代问世的一种新型光源，是一种人造的、特殊类型的非电离辐射，现有的激光检测装置只能通过一维运动和二维运动对型材进行检测，当型材的形状不规则或者有坑洼时，激光发射的光束与坑洼不垂直，可能导致坑洼的地方检测不到而导致异型型材的测量数据不准确...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。