技术编号：19731779
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及三维面形测量技术领域，更具体地，涉及高反光表面三维面形测量方法、服务器及系统。背景技术相移条纹投影技术由于具有全场获取、非接触式、低成本、高精度和快速数据处理等优势，现已广泛地应用于学术研究和工业领域。基于数字投影仪(digitiallightprocessing，dlp)与数字相机的数字投影光栅技术也被越来越多地用于高精度的光学三维测量中。然而，实际的测量过程中，由于被测物体材质不同，其表面会具有不同反射特性，光栅条纹的调制效果会受到不同程度的影响。其中，物体表面高反射率造成的图像过...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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