技术编号：19875959
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及led芯片测试生产技术领域，尤其是涉及一种基于mes系统的led晶圆点测自动化系统。背景技术led晶圆是led的核心部分，事实上，led的波长、亮度、正向电压等主要光电参数基本上取决于晶圆材料。led的相关电路元件的加工与制作都是在晶圆上完成的，所以晶圆技术与设备是晶圆制造技术的关键所在。传统的led晶圆测试流程一般分为设备工程师在led芯片测试机建立测试程序，工艺工程师检查确认参数是否正确，然后开始生产。生产完成后，操作员移动测试结果数据到文件服务器中工程师指定文件夹，然后触发后台系...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。