技术编号：20367286
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明专利申请是发明名称为“探针”、国际申请日为2017年3月14日、国际申请号为“pct/jp2017/010191”、国家申请号为“201780002574.4”的发明专利申请的分案申请。本发明涉及探针。背景技术在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般来讲，在其制造工序中进行导通检查和动作特性检查等。使用探针将fpc接触电极或所安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接，由此进行这些检查，其中，该fpc接触电极用于与在电子部件模块中设置的主体基板连接。作为这种探针，例如存在专利文献1中记...
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