技术编号：20432521
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元器件技术领域，尤其涉及一种太赫兹渡越时间器件半正弦电流脉冲可靠性试验装置。背景技术在电子技术可靠性领域，电子器件的可靠性是电子设备、电子系统等产品可靠性的基础。根据相关的技术规范或技术条件研制可靠性试验装置，是检测电子器件质量和可靠性的必要技术手段。为了保证所设计的太赫兹渡越时间器件能够达到规定的可靠性指标、预报器件的可靠度，就要开展包括半正弦电流脉冲可靠性试验在内的系统性可靠性试验，获得相关的数据，预报所述器件或者应用所述器件的电子系统的可靠度，并为改进器件设计提供依据。最近，...
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