技术编号：21095310
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于透射电子显微镜相关的科研仪器领域，尤其涉及一种透射电子显微镜样品和样品杆的预处理装置。背景技术透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscope，简称tem)以电子束为光源，把经过聚集和加速的电子束入射到薄样品上，高能的入射电子与样品相互作用产生物理信号，其中入射电子中的一部分中穿过样品的那部分电子被称作透射电子，透射电子携带了样品的本征信息。由于样品在各个微区的厚度、原子序数、晶体结构以及位向等并不相同，因此穿过样品的透射电子的散射角并不相同，从而形成了反映...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。