技术编号:21263839
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及存储技术领域,具体涉及一种高密度存储设备测试方法、系统、终端及存储介质。背景技术目前我国的网络日益普及,云计算及大数据等新技术的大力发展,个人对数据备份、企业对数据平台等的需求,需要使用到大量的存储,尤其高密度存储设备,另外对存储设备的功能需求也日益多样化。高密度存储一般都是支持几十甚至几百个硬盘存储,硬盘在开机上电之后一般会有10几瓦功耗,如果全部硬盘上电需要几百瓦的功耗。随着市场需求的不断多样化,有时候用户并不需要同时使用这么多的存储硬盘,或者某些写满的硬盘可能一时也不再需要,这时...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。