技术编号:21307839
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于膜厚测试仪相关技术领域,具体涉及圆棒120°3点多组膜厚仪测试装置。背景技术膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光x射线仪镀层测厚仪,手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度,台式的荧光x射线膜厚测试仪,是通过一次x射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。现有的测试装置技术存在以下问题:...
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