技术编号：21646383
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及防护材料衰减性能检测技术领域，具体为一种x射线防护材料衰减性能检测方法。背景技术x射线是一种波长极短，能量很大的电磁波，x射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001～10纳米，医学上应用的x射线波长约在0.001～0.1纳米之间)，它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。由德国物理学家w.k.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线，而x射线防护材料衰减性能检测装置则是一种专门用来检测防护材料衰减性能的装置。目前，现有的防护材料衰减性能检测方法，一般都只能对防护材料进行单一的检测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。