技术编号:21777138
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明设计一种cmos集成电路,具体涉及一种基于相关双采样的伪差分结构微弱电流积分电路。背景技术在半导体微弱电流检测时,需要对亚pa级的电流进行检测。电路的噪声主要来自于以下两个方面。一是输入信号自身的噪声,在微弱电流信号中往往会夹带这样或者那样的噪声。同时,放大电路自身也会存在噪声,例如低频的1/f噪声。并且由于器件本身的匹配问题,放大电路还会存在着失调电压。采用相关双采样技术(correlateddoublesampling,cds)技术来消除低频噪声和放大器的失调。相关双采样电路通过复位和...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。