技术编号:21844986
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电池领域,特别涉及一种电池soh估算方法。背景技术目前影响电池老化的因素包括充放电流大小,环境温度,环境湿度、出厂时间等,在现有的soh估算方法中,soh的估算方法通常采用的是循环圈数累计法,也就是说将电池实际的循环圈数作为soh估算分母,将当前循环圈数作为分子,用于估算电池的健康状况,现有的soh估算方案模型过于简单,没有综合考虑影响电池老化的因素,因此现有技术方案对soh的估算并不精确。发明内容本发明其中一个目的在于提供一种电池soh估算方法,所述电池soh估算方法将温度对电池的影...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。