技术编号:22114218
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及x射线聚焦镜的拼接干涉检测领域,具体涉及一种用于x射线聚焦镜拼接干涉检测的点云配准拼接方法。背景技术先进x射线光源(同步辐射/x射线自由电子激光)对前沿科学研究和工业核心技术发展具有十分重要的作用。我国先进x射线光源陆续启动建设,急需大量高精度光学元件。由于x射线聚焦镜具有曲率小或口径大的特点,高精度的干涉仪难以一次检测全口径面形,需要对镜面进行拼接干涉检测;这就需要通过点云配准将各个子孔径的三维点云数据变换到同一个坐标系下;根据各个子孔径点云估算出不同子孔径点云之间的变换关系,这一过...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。