技术编号：22477166
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及太阳能电池测试领域，特别是涉及一种晶硅电池letid的测试方法及装置。背景技术perc电池技术因为其高性价比，相比bsf电池的老产线改造成本低，近几年perc电池技术迅速反超bsf电池，市场占有率也逐年增加。perc电池技术得益于背面钝化和正面se技术的叠加，大大降低了表面的复合损失，量产电池效率有望突破23％，甚至更高。但是p型perc电池存在衰减过大的问题，通常认为perc电池衰减主要来源于硼氧对引起的光诱导衰减(bo-lid)，但近几年因为过量引入氢和金属杂质等引起的高温热辅助诱...
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