技术编号：22623531
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及测试技术领域，特别涉及测试芯片或者管芯。背景技术当将芯片放置在插座中并进行测试时，测试板向芯片提供多个测试信号以测试功能。在芯片的测试过程中，芯片可能执行具有不同功耗的不同操作，并且芯片可能会从测试板汲取不同的电流，从而导致ir下降，并且电源电压的稳定性会恶化。为了稳定输入到芯片的电源电压，在测试板上提供了去耦/旁路电容器，以减轻ir压降问题。然而，由于去耦/旁路电容器与芯片之间的距离太远，所以这种设计的效果不够好。发明内容因此，本发明的目的是提供一种用于测试芯片或者管芯的设备，该设备...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。