技术编号：22674140
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电力技术和微电子技术两大技术领域，涉及一种测试方法和测试系统，适用于集成电路及其应用电子系统的电磁兼容性试验，特别是射频集成电路及其应用电子系统，在极端电磁环境中工作时的电磁兼容性试验技术。背景技术集成电路包括射频集成电路的电磁兼容性试验，通常是把受试集成电路样片组装成测试模块，然后放置于自动测试系统中进行测试。这种测试既包括电磁兼容性测试，更主要的是进行各项功能与性能指标的测试。对于应用在一般电磁环境中的集成电路包括射频集成电路来说，这种测试已经足够满足其使用要求。如申请号为2017...
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