技术编号:23011590
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及辐射测温技术领域,尤其涉及一种旋转式双波长激光测温装置。背景技术辐射测温方法是一种重要的温度测量手段,其非接触的测量特性使得对测量目标的温度场影响较小且理论上没有测温上限。常见的辐射测温仪已在生活、生产、科研等方面得到广泛应用,主要种类有亮度温度计、全辐射温度计和比色温度计等。但是,传统测量方法需事先已知待测对象的表面发射率,测量精度受制于测量对象表面发射率的精确获取,对于低发射率物体的温度测量影响尤为明显。为摆脱发射率的限制,基于双波长的辐射测温技术得到了关注和发展。该方法通过对激光...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。