技术编号:23388722
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片检测装备领域,尤其是涉及芯片老化测试的工装设备领域,具体为一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备。背景技术随着半导体技术的快速发展和芯片复杂度的逐年提高,芯片测试已贯穿于整个设计研发与生产过程,并越来越具有挑战性。其中老化测试是芯片在交付客户使用之前用以剔除早期失效产品的一项重要测试。通常对芯片进行老化测试都需要先将每块待测试芯片放置于老化测试治具板的测试座内,再将装夹好芯片的老化测试治具板放入老化测试设备内进行老化测试;为了提高芯片老化测试的效率,现有的老化测试治具板上大都以矩阵的形...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。