技术编号：23550095
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及光通信设备测试技术领域，具体涉及一种光量子交换机插损测量系统与测量方法。背景技术光量子交换机在量子网络中负责量子信道切换，光量子交换机由密钥管理服务器(kms)进行控制，负责量子信道的切换，实现量子密钥分发(qkd)设备间的量子信道的连通，同时连接网络管理服务器(nms)，由nms远程监控设备的运行状态。插入损耗(插损)指在传输系统的某处由于元件或器件的插入而发生的负载功率的损耗，即是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，它表示为该元件或器件插入前负载上所接收到的功率与插...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。