技术编号：23718091
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明专利涉及一种适用于工业产品检测的超大尺寸高精度二维平面测量设备。背景技术在工业生产领域，需要在产品批量生产前，对生产设备的生产性能（尤其是加工产品的尺寸等）进行抽样评估，以防止由于生产设备本身的问题导致的产品合格率较低的结果出现，从而在一定程度上增加产品的出厂合格率，降低生产成本，保障制造商的利润和与委托方的合作，以及厂商未来的发展。目前业内主要使用二次元设备进行尺寸测量，存在的主要问题包括：所有测量点均需由人工逐一定位，这就不可避免的将人工误差带入到系...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。