技术编号：24210064
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及无损检测技术领域，具体涉及固定拍照机器的支架。背景技术.无损设备的探伤技术主要包括无损探伤技术和外观检测，无损探伤技术常用的探伤方法有：x光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤等方法；外观检测主要是用于肉眼观察。.对于一些无法直接使用肉眼观察的外观检测需要采用拍照机器进行拍照，实现曝光底片拍摄，例如一些罐体的底部探测，需要将拍照机器置于罐体的底部进行探测。在使用过程中拍照机器通常需要支架进行固定，现有的支架通常能够实现局部转动，无法实现大范围调动。...
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